PN-12导电类型鉴别仪
PN-30导电类型鉴别仪
*.四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,按国家标准和美国A.S.T.M标准设计,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻率)的新型仪器。 可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO导电膜玻璃)、金属膜……等同类物质的薄层电阻(表面电阻率)。 * 轻便手持式设计操作、测试简便; *.特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜; *.以大屏幕LCD显示读数,直观清晰; *测量范围:按方块电阻量值大小分为二个量程档 1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□; 2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□; *最小分辨率:0.01Ω/□; (备注:方块电阻最低方阻可以测量到0.01Ω/□,如在方阻小于1Ω时显示0.##);
*测量范围:按方块电阻量值大小分为二个量程档 1.方块电阻 1.0~1999.9Ω/□; 2.方块电阻 10~19999Ω/□; *最小分辨率:0.1Ω/□; (备注:方块电阻最低方阻可以测量到0.1Ω/□,如在方阻小于1Ω时显示0.#);
*测量范围:按方块电阻量值大小分为二个量程档 1.方块电阻 1.000~19.999Ω/□; 2.方块电阻 10.0~199.99Ω/□; *最小分辨率:0.001Ω/□; (备注:方块电阻最低方阻可以测量到0.001Ω/□,如在方阻小于1Ω时显示0.###);
*.是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准而设计专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜ITO透明氧化膜)、金属膜……等同类物质的薄层电阻。 *.测量范围: 基本量程:方块电阻 10.0—199.9(Ω/□) 扩展量程:方块电阻 100—1999(Ω/□) *.体积:130*65*23、低功耗;
*.根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的手持式仪器; *.体积仅为:185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高); *.测量范围: 电阻率:0.01~1999.9Ω.cm; 方块电阻:0.1~19999Ω/□; *.锂电池供电,一次充电可连续使用100小时;
*.用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。 * 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰; *.测量范围; 基本量程:方块电阻 1.00—199.99(Ω/□) 扩展量程:方块电阻 10.0—1999.9(Ω/□)
*.轻便手持式设计; *.127个数据测试点保存; *.通过RS-232与电脑通讯; *.测量范围(四种型号的产品不同的测量范围): 0.000~9.999 (Ω/□)-SRM-232-10 00.00~95.00 (Ω/□)-SRM-232-100 0~1000(Ω/□)-SRM-232-1000 0~2000(Ω/□)-SRM-232-2000
*.特制之手握式探笔; * 球形探针、镀金探针; *.有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤; *.探头带抗静电模块; ◆ 可选配HP系列四探针探头的型号及规格:
*.专用于测量小样品; * 球形探针、镀金探针; *.有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤; *.探头带抗静电模块; ◆ SP-601型方形四探针探头规格:
*.探针材质碳化钨; * 针尖直径可选:1.6mil、5mil、10mil; *.探针间距可选:40mil、50mil、62.5mil; *.探针压力可选:45克、85克、180克;
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