*.四探针方块电阻测试仪中的新一代产品，按国家标准和美国A.S.T.M标准设计，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻率）的新型仪器。 可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO导电膜玻璃）、金属膜……等同类物质的薄层电阻（表面电阻率）。
* 轻便手持式设计操作、测试简便；
*.特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜；
*.以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；
*测量范围：按方块电阻量值大小分为二个量程档
1.方块电阻 1.00～199.99Ω/□；
2.方块电阻 10.0～1999.9Ω/□；
*最小分辨率：0.01Ω/□；
(备注：方块电阻最低方阻可以测量到0.01Ω/□，如在方阻小于1Ω时显示0.##)；

*测量范围：按方块电阻量值大小分为二个量程档
1.方块电阻 1.0～1999.9Ω/□；
2.方块电阻 10～19999Ω/□；
*最小分辨率：0.1Ω/□；
(备注：方块电阻最低方阻可以测量到0.1Ω/□，如在方阻小于1Ω时显示0.#)；

*测量范围：按方块电阻量值大小分为二个量程档
1.方块电阻 1.000～19.999Ω/□；
2.方块电阻 10.0～199.99Ω/□；
*最小分辨率：0.001Ω/□；
(备注：方块电阻最低方阻可以测量到0.001Ω/□，如在方阻小于1Ω时显示0.###)；

*.是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准而设计专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜ITO透明氧化膜)、金属膜……等同类物质的薄层电阻。
*.测量范围：
基本量程：方块电阻 10.0—199.9(Ω/□)
扩展量程：方块电阻 100—1999(Ω/□)
*.体积：130*65*23、低功耗；

*.根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计的专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的手持式仪器；
*.体积仅为：185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高)；
*.测量范围：
电阻率：0.01～1999.9Ω.cm；  
方块电阻：0.1～19999Ω/□；
*.锂电池供电，一次充电可连续使用100小时；

*.轻便手持式设计；
*.127个数据测试点保存；
*.通过RS-232与电脑通讯；
*.测量范围(四种型号的产品不同的测量范围)：
0.000～9.999 (Ω/□)-SRM-232-10
00.00～95.00 (Ω/□)-SRM-232-100
0～1000(Ω/□)-SRM-232-1000
0～2000(Ω/□)-SRM-232-2000

*.特制之手握式探笔；
* 球形探针、镀金探针；
*.有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤；
*.探头带抗静电模块；
◆ 可选配HP系列四探针探头的型号及规格：

型号	曲率半径	压力	探针间距	探针排列
HP-501	0.5mm	100g	3.8mm	直线
HP-502	0.75mm	100g	3.8mm	直线
HP-503	0.1mm	150g	1mm	直线
HP-504	0.5mm	100g	1.59mm	直线

*.专用于测量小样品；
* 球形探针、镀金探针；
*.有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤；
*.探头带抗静电模块；
◆ SP-601型方形四探针探头规格：

型号	曲率半径	压力	探针间距	探针排列
SP-601	0.5mm	100g	1.59mm	方形

*.探针材质碳化钨；
* 针尖直径可选：1.6mil、5mil、10mil；
*.探针间距可选：40mil、50mil、62.5mil；
*.探针压力可选：45克、85克、180克；