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品名
LT-2型单晶少子寿命测试仪
价格
特点/规格

*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之一。仪器灵敏度高,配备有红外光源,可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等;
* 测试单晶电阻率范围:>2Ω.cm;
* 可测单晶少子寿命范围:5μS-7000μS;
*.配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm;

 
品名
DSY-II型单晶少子寿命测试仪
价格
特点/规格

*.用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。   本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法   的原理设计,由稳压电源、高频源、检波放   大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品   台共五部份组成;
*.测试单晶电阻率范围:>10Ω.cm
*可测单晶少子寿命范围:20μS-5000μS;

 
品名
LT-3型单晶少子寿命测试仪
价格
特点/规格

*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于   测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命;
*.测试单晶电阻率范围: >0.3Ω.cm;
*.可测单晶少子寿命范围: 1μS-10000μS;
*.配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm;
  余辉<1 μS;闪光频率为:20-30次/秒;
*.前置放大器:放大倍数约25;
*.测量方式:采用对标准曲线读数方式;

 
品名
WCT-100型硅单晶寿命测试仪
价格
特点/规格

*.测试单晶电阻率范围: >0.03Ω.cm
*.可测单晶少子寿命范围: 10nS-10mS;

— 以上仪器如实验室教学使用有需要可免费附送测试样品 —
   
   
 

敬告用户:因我司生产的测试仪器在行业的知名度显著,最近市场上出现假冒伪劣或山寨我司的产品,部分冒牌的仪器上甚至冒用我司”广州四探针科技有限公司“和“四探针科技”的名称,有的厂家有意或者无意间在公司介绍中暗示带有“四探针科技”的名称www.4probes.com是我司唯一的官方网址,我司从来没有注册过以任何4probes其它后缀的域名网址,有的厂家为了混淆视听,注册了以4probes为后缀的其它网址。甚至有的厂家还以我司生产的产品型号RTS-8四探针测试仪、RTS-9双电测四探针测试仪等畅销的产品型号在搜索平台作为关键字进行推广,然后指向他们的网站。请各大用户注意,如果用户是通过中间商购买我司产品的,最好来电我司咨询此中间商是否为我司授权的经销商,已购买仪器的用户可来电我司进行核实。对于相关公司生产冒牌我司产品带来侵犯我司名称、商标、知识产权的产品,我司将追究其违法、违规相关的经济和法津责任。

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