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 测试软件免费升级更新(最新的更新日期:2022年4月25日)
 RTS-4型四探针测试仪专用测试软件(点击下载)
 RTS-8型四探针测试仪专用测试软件(点击下载)
 RTS-5型双电测四探针测试仪专用测试软件(点击下载)
 RTS-9型双电测四探针测试仪专用测试软件(点击下载)
 RTS-11型金属四探针测试仪(点击下载)
 辅助测试工具软件(最新的更新日期:2022年4月25日)
 计算样品测试电流值、厚度修正因子、直径修正因子(四探针测试仪专用)
 辅助测试工具软件点击下载
 测试标准(点击下面链接下载)
 微纳米金属烧结体电阻率测试方法-四探针法
 直线四探针法测量硅片电阻率的试验方法(ASTM F84)
 直线四探针法对金属膜的薄膜电阻试验方法(ASTM F390-98)
 直线四探针法测定硅外延层、扩散层和离子注入层的薄膜电阻(ASTM F374-00A)
 锗单晶电阻率直流四探针测定方法(GB/T 26074-2010)
 锗单晶电阻率直流四探针测定方法(GB/T5251-85)
 硅单晶电阻率直流四探针测量方法(GB/T1552-1995)
 直线四探针法双电测测量试验方法(ASTM F1529)
 硅棒电阻率二探针测量方法(ASTM-F397-02)
 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法(GB/T1553-1997)
 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法(GB/T1553-2009)
 硅处延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法(GB/T14141-1993)
 硅片径向电阻率变化的测量方法(GB/T11073-1989)
 硅片径向电阻率变化的测量方法(GB/T11073-2007)
 非本征半导体材料导电类型测试方法(ASTM F42-93)
 非本征半导体材料导电类型测试方法(GB/T 1550-1997)
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
   
   

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