半导体测试行业的倡导者和领导者-提供专业半导体测试解决方案
 
 
销售电话:13544546431 15920356775 020-37097519  联系人:方滨 
 
传真:020-37097519   邮箱:sales@4probes.com  QQ号:1014747857 
   
  产品目录
-四探针测试仪
-金属四探针测试仪
-手持方块电阻测试仪
-导电类型鉴别仪
-少子寿命测试仪
-二探针测试仪
-C-V测试仪
-恒流源
-探针台
-探针头
-探针
-粉末压片机
-测试软件
 
热卖、最新产品
RTS-8四探针测试仪
RTS-9四探针测试仪
RTS-4四探针测试仪
RTS-5四探针测试仪
金属四探针测试仪
手持式四探针测试仪
便携式四探针测试仪
RTS-7二探针测试仪
LT-2少子寿命测试仪
PN-12导电类型鉴别仪

PN-30导电类型鉴别仪

ST-21方块电阻测试仪
CV-5000(CV测试仪)
ST-102A探针台
FT-202四探针探头
行业应用
太阳能电池
半导体工艺
电子元器件
功能材料
 
 
 
·测试软件免费升级
 RTS-4型四探针测试仪专用测试软件
 RTS-8型四探针测试仪专用测试软件
 RTS-5型双电测四探针测试仪专用测试软件
 RTS-9型双电测四探针测试仪专用测试软件
·辅助测试工具软件
 计算样品测试电流值、厚度修正因子、直径修正因子(四探针测试仪专用)
·标淮
 直线四探针法测量硅片电阻率的试验方法(ASTM F84)
 直线四探针法对金属膜的薄膜电阻试验方法(ASTM F390-98)
 直线四探针法测定硅外延层、扩散层和离子注入层的薄膜电阻(ASTM F374-00A)
 锗单晶电阻率直流四探针测定方法(GB/T 26074-2010)
 锗单晶电阻率直流四探针测定方法(GB/T5251-85)
 硅单晶电阻率直流四探针测量方法(GB/T1552-1995)
 直线四探针法双电测测量试验方法(ASTM F1529)
 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法(GB/T1553-1997)
 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法(GB/T1553-2009)
 硅处延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法(GB/T14141-1993)
 硅片径向电阻率变化的测量方法(GB/T11073-1989)
 硅片径向电阻率变化的测量方法(GB/T11073-2007)
 非本征半导体材料导电类型测试方法(ASTM F42-93)
 非本征半导体材料导电类型测试方法(GB/T 1550-1997)
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
   
   
 

敬告用户:因我司生产的测试仪器在行业的知名度显著,最近市场上出现假冒伪劣或山寨我司的产品,部分冒牌的仪器上甚至冒用我司”广州四探针科技有限公司“和“四探针科技”的名称,有的厂家有意或者无意间在公司介绍中暗示带有“四探针科技”的名称www.4probes.com是我司唯一的官方网址,我司从来没有注册过以任何4probes其它后缀的域名网址,有的厂家为了混淆视听,注册了以4probes为后缀的其它网址。甚至有的厂家还以我司生产的产品型号RTS-8四探针测试仪、RTS-9双电测四探针测试仪等畅销的产品型号在搜索平台作为关键字进行推广,然后指向他们的网站。请各大用户注意,如果用户是通过中间商购买我司产品的,最好来电我司咨询此中间商是否为我司授权的经销商,已购买仪器的用户可来电我司进行核实。对于相关公司生产冒牌我司产品带来侵犯我司名称、商标、知识产权的产品,我司将追究其违法、违规相关的经济和法津责任。

 广州四探针科技官方网站
©1998-2021 广州四探针科技有限公司 版权所有
 
粤ICP备2021114124号-1