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ST-21方块电阻测试仪
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行业应用
太阳能电池
半导体工艺
电子元器件
功能材料
 
 
ST-21H
 
 
 
    ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
    该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
◆ 特点
1
 采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;
2
 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3
 采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4
 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5
 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6
 探头带抗静电模块
 
◆ 技术指标:
测量范围
 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.0~1999.9Ω/□;
  2.方块电阻 10~19999Ω/□;
 最小分辨率:0.1Ω/□;
恒流源
 测量过程误差:≤±0.8%
模数转换器
 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;
测量不确定度
 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
四探针探头规格
 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
电源
 9V叠层电池1节
 
◆ ST-21H方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直线
HP-502
0.75mm
100g
3.8mm
直线
HP-503
0.1mm
150g
1mm
直线
HP-504
0.5mm
100g
1.59mm
直线
 
◆ ST-21H方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
SP-601
0.5mm
100g
1.59mm
方形
 
下载ST-21H型方块电阻测试仪产品资料(PDF)
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