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电子元器件
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LP-701型四探针探头
    LP-701型四探针探头(长把手设计)是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特性及规格
1
 特制之长把手设计手握式探笔,把手长度14cm
2
 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3
 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4
 探头使用寿命长
5
 探针间距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
   
   

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